一、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)與應(yīng)用必要性
電子電器元件在使用、運(yùn)輸及存儲(chǔ)過(guò)程中，常面臨溫度急劇變化環(huán)境，易引發(fā)材料疲勞、焊點(diǎn)開(kāi)裂、接觸不·良、性能漂移等問(wèn)題。冷熱沖擊試驗(yàn)是用于驗(yàn)證產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性、開(kāi)展可靠性篩選與質(zhì)量控制的常用測(cè)試手段，相關(guān)測(cè)試設(shè)備需符合國(guó)家、國(guó)際及行業(yè)通用試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，以保障試驗(yàn)過(guò)程規(guī)范、數(shù)據(jù)可追溯、結(jié)果具備參考價(jià)值。
本系列設(shè)備可支持開(kāi)展以下標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)：
· GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)
· GJB 150.5A-2009 軍·用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)
· GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法
· GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007 低溫試驗(yàn)方法
· GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:2007 高溫試驗(yàn)方法
· GB/T 10589-2008、GB/T 11158-2008 試驗(yàn)箱技術(shù)條件
上述標(biāo)準(zhǔn)適用于各類電子元器件、組件、汽車(chē)電器、材料等產(chǎn)品的型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)與可靠性驗(yàn)證，可滿足生產(chǎn)企業(yè)、科研機(jī)構(gòu)、檢測(cè)及認(rèn)證等單位的常規(guī)測(cè)試需求。
二、標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的基本要求
1.溫度范圍與沖擊區(qū)間滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高溫、低溫及溫度變化參數(shù)要求；
2.溫度均勻性、波動(dòng)度等指標(biāo)符合試驗(yàn)箱技術(shù)條件與環(huán)境試驗(yàn)方法要求；
3.具備穩(wěn)定的加熱、制冷與風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)設(shè)定條件下的溫度交變；
4.具備程序控制功能，可按試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定溫度、保持時(shí)間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù)；
5.配置完善的安·全保護(hù)裝置，保障設(shè)備與測(cè)試樣品運(yùn)行安·全。
三、海達(dá)可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱（三箱式）產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概況
海達(dá)HD E703 系列三箱式可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，為電子元?dú)饧?、電工、汽?chē)電器及相關(guān)材料提供溫度沖擊環(huán)境測(cè)試條件，可用于可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選及質(zhì)量控制，適用于電子、家電、汽車(chē)、科研、檢測(cè)等領(lǐng)域。
結(jié)構(gòu)與配置（基于產(chǎn)品實(shí)測(cè)參數(shù)客觀描述）
1.整體式三箱結(jié)構(gòu)，設(shè)高溫預(yù)熱區(qū)、低溫預(yù)冷區(qū)、測(cè)試區(qū)，通過(guò)風(fēng)門(mén)切換實(shí)現(xiàn)氣流循環(huán)，設(shè)備底部配有腳輪與腳杯，便于移動(dòng)與定位。
2.箱體外殼采用冷軋鋼板加工處理，內(nèi)膽采用SUS304 不銹鋼，保溫層采用聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡與玻璃纖維棉復(fù)合結(jié)構(gòu)。
3.箱門(mén)配硅膠密封條與防爆式把手，測(cè)試區(qū)預(yù)留Φ50mm 引線測(cè)試孔及隔熱密封配件，可滿足部分樣品帶電測(cè)試需求。
4.采用進(jìn)口品牌壓縮機(jī)組成二元式冷凍系統(tǒng)，使用環(huán)保制冷劑，搭配板式換熱器，保障低溫穩(wěn)定運(yùn)行。
5.采用液晶觸摸式可編程控制器，支持PID 自動(dòng)調(diào)節(jié)，溫度顯示分辨率 0.1℃，配置 RS 232、USB 等接口，便于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與導(dǎo)出。
6.具備超溫、過(guò)載、超壓、欠相/ 逆相、漏電、故障報(bào)警及自動(dòng)停機(jī)等多重保護(hù)功能。
·內(nèi)容積：50L / 100L
·高溫范圍：RT~170℃
·低溫范圍：-75℃~RT
·測(cè)試區(qū)溫度：-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃（按機(jī)型配置）
·溫度沖擊范圍：高溫60℃~150℃，低溫-10℃~-40℃/-55℃/-65℃（按機(jī)型配置）
·溫度波動(dòng)度、均勻度符合GB/T 10589、GB/T 11158 及環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求
·升溫、降溫速率及儲(chǔ)熱、儲(chǔ)冷時(shí)間符合產(chǎn)品設(shè)計(jì)指標(biāo)，可滿足常規(guī)溫度沖擊試驗(yàn)需求
·電源：三相380V 50Hz
適用樣品類型
可用于芯片、電阻、電容、連接器、PCB 組件、車(chē)載電子部件、各類電子模塊等電子電器元件及材料的溫度沖擊測(cè)試。
四、合規(guī)產(chǎn)品推薦
結(jié)合電子電器元件行業(yè)常規(guī)測(cè)試需求，推薦以下兩款機(jī)型：
1.HD-E703-50S 可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)內(nèi)容積50L，適合小型電子元器件、芯片、連接器等樣品的可靠性測(cè)試與篩選，占用空間較小，適配研發(fā)及小批量質(zhì)檢場(chǎng)景。
2.HD-E703-100 可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)內(nèi)容積100L，適合 PCB 組件、中小型電子模塊、車(chē)載電器部件等樣品測(cè)試，滿足批量試驗(yàn)與常規(guī)型式檢驗(yàn)需求。
五、說(shuō)明（合規(guī)提示）
1.本內(nèi)容基于產(chǎn)品技術(shù)文件客觀表述，不涉及功效斷言、絕·對(duì)化描述及安·全性保證，設(shè)備使用效果與測(cè)試結(jié)果受樣品特性、操作規(guī)范、環(huán)境條件等因素影響。
2.產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)、外觀、配置可能因優(yōu)化升級(jí)調(diào)整，具體以廠家正式產(chǎn)品規(guī)格書(shū)與合同約定為準(zhǔn)。
3.設(shè)備使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀操作說(shuō)明書(shū)，按相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)與安·全規(guī)范操作。
